Listar por autor "Urrea Beltrán, Javier"

Mostrando ítems 1-1 de 1

    • Aplicaciones industriales de la metrología óptica 

      Herrera Paloma, Myriam; Urrea Beltrán, Javier; Cardona, Andrés Felipe; Cujavante Sierra, Soraida; López González, Alexánder; Ronderos, William Antonio; González Hurtado, Jhersson Andrés; Cuéllar Ariza, Jhon Alexánder; Mocha, Francisco Javier; Riaño Sutaneme, Davis William; Botero Ramos, Juan David; José Arcangel Peñuela Montoya, José Arcángel; Rivera Pulido, John Steven (Escuela Tecnológica Instituto Técnico CentralColombia, 2015)
      La metrología como campo de las ciencias aplicadas, es utilizada en procesos de la industria para obtener mediciones de magnitud macro y micrométrica. Con el avance de la tecnología se asumen otros criterios para incursionar ...